50年代初期，儀器儀表取得了重大突破，數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問(wèn)世，把模擬儀器的精度、分辨力與測(cè)量速度提高了幾個(gè)量級(jí)，為實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化打下了良好的基點(diǎn)。60年代中期，測(cè)量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展，計(jì)算機(jī)的引入，使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化，從個(gè)別電量的測(cè)量轉(zhuǎn)變成測(cè)量整個(gè)系統(tǒng)的待征參數(shù)，從單純的接收、顯現(xiàn)轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂?、分析、處理、?jì)算與顯現(xiàn)輸出，從用單個(gè)儀器進(jìn)行測(cè)量轉(zhuǎn)變成用測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。70年代，計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透，使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外，又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)或(Data domain)測(cè)試。80年代，由于微處理器被用到儀器中，儀器前面板開(kāi)始朝鍵盤(pán)化方向發(fā)展，過(guò)去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤(pán)，挑選電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開(kāi)關(guān)，通、斷開(kāi)關(guān)鍵已經(jīng)消失。測(cè)量系統(tǒng)的主要模式，是采用機(jī)柜方式，全部經(jīng)過(guò)IEEE-488總線(xiàn)送到一個(gè)控制品上。測(cè)試時(shí)，可用豐富的BASIC語(yǔ)言程序來(lái)高速測(cè)試。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器已經(jīng)得到了發(fā)展。90年代，儀器儀表與測(cè)量科學(xué)進(jìn)步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表當(dāng)今以下幾個(gè)方面：微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設(shè)計(jì)：DSP芯片的大量問(wèn)世，使儀器儀表數(shù)字信號(hào)處理功能大大加強(qiáng);微型機(jī)的發(fā)展，使儀器儀表具有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力;圖像處理功能的添補(bǔ)十分廣泛;VXI總線(xiàn)得到普遍的應(yīng)用。
　　國(guó)外儀器儀表發(fā)展個(gè)性色彩：
　　1、新技術(shù)的應(yīng)用。現(xiàn)在廣泛采用EDA(電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)、CAM(計(jì)算機(jī)輔助制造)、CAT(計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試)、DSP(數(shù)字信號(hào)處理)、ASIC(專(zhuān)用集成電路)及SMT(表面貼裝技術(shù))等。
　　2、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)變化。注重性能價(jià)格化。在重視高檔儀器開(kāi)發(fā)的同時(shí)，注重高新技術(shù)和量大面廣產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)。
　　注重系統(tǒng)集成，不僅著眼于單機(jī)，更注重系統(tǒng)、產(chǎn)品軟化，隨著各類(lèi)儀器裝上了CPU，實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化后，軟件上投放了宏大的人力、財(cái)力、今后的儀器綜合成一個(gè)簡(jiǎn)單的公式：儀器=AD/DA+CPU+軟件，AD芯片將模擬信號(hào)變成數(shù)字信號(hào)，再經(jīng)過(guò)軟件處理變換后用DA輸出。
　　3、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)準(zhǔn)則發(fā)生了變化。從技術(shù)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)為市場(chǎng)驅(qū)動(dòng)，從一味尋求高精尖轉(zhuǎn)為“恰到好處”。開(kāi)發(fā)一項(xiàng)成功產(chǎn)品的準(zhǔn)則是，用戶(hù)有明確的需求;能用最短的開(kāi)發(fā)時(shí)間投放市場(chǎng);功能與性能要恰到好處;產(chǎn)品開(kāi)發(fā)準(zhǔn)則的另一變化是收縮方向，集中優(yōu)勢(shì)。
　　4、生產(chǎn)技術(shù)注重專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)，不大而全。生產(chǎn)過(guò)程采用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?，F(xiàn)在多以GP-IB儀器組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。生產(chǎn)線(xiàn)上盡是一個(gè)個(gè)大的測(cè)試柜，快速地進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試、統(tǒng)計(jì)、分析、打印出結(jié)果。
　　國(guó)外儀器儀表發(fā)展方向
　　1、自動(dòng)化儀器的發(fā)展趨勢(shì)
　　工業(yè)自動(dòng)化控制儀表主要包括變送器、調(diào)節(jié)器、調(diào)節(jié)閥等設(shè)備，控制儀表從基地式調(diào)節(jié)器(變送、指示、調(diào)節(jié)一體化的儀表)開(kāi)始，經(jīng)歷了氣功、電動(dòng)單元組合儀表到計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)(DDC)，直到今日的分散控制系統(tǒng)DCS。DCS已經(jīng)走過(guò)了20多年的里程，DCS，以其高度的可靠性、方便的組態(tài)軟件、豐富的控制算法、盛開(kāi)的聯(lián)網(wǎng)能力等優(yōu)點(diǎn)，得到迅速的發(fā)展，成為計(jì)算機(jī)工業(yè)控制系統(tǒng)的主流。PLC以其結(jié)構(gòu)緊湊、功能簡(jiǎn)單、速度快、可靠性高、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)，迅速獲得普遍應(yīng)用，已成為與DCS并駕齊驅(qū)的另一種主流工業(yè)控制系統(tǒng)?，F(xiàn)在以PLC為基礎(chǔ)的DCS發(fā)展很快，PLC與DCS相互滲透、相互融合、相互競(jìng)爭(zhēng)，已成為當(dāng)前工業(yè)控制系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì)。
　　2.科學(xué)儀器的發(fā)展趨勢(shì)
　　(1)現(xiàn)代光學(xué)儀器的發(fā)展趨勢(shì)
　　從傳統(tǒng)光學(xué)儀器轉(zhuǎn)變現(xiàn)代光學(xué)儀器，關(guān)鍵在于計(jì)算機(jī)化，而微電子技術(shù)是基礎(chǔ)。光譜儀器發(fā)展最快，發(fā)達(dá)國(guó)度80年代巳實(shí)現(xiàn)微機(jī)化，現(xiàn)已向聯(lián)用技術(shù)、全自動(dòng)化(如內(nèi)裝機(jī)械手等機(jī)器人系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)元人操作)，實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)自動(dòng)化及智能化方向發(fā)展。光學(xué)計(jì)量?jī)x器從大型細(xì)密儀器——三座標(biāo)測(cè)量機(jī)到傳統(tǒng)的自準(zhǔn)直儀和投影儀都已實(shí)現(xiàn)微機(jī)化、光電化;激光技術(shù)的結(jié)合和CCD等光電器件的引人， 更為快速、準(zhǔn)確、可靠的在線(xiàn)檢測(cè)和監(jiān)控發(fā)明了條件。
　　(2)光學(xué)計(jì)量?jī)x器的發(fā)展趨勢(shì)
　　未來(lái)的光學(xué)計(jì)量?jī)x器儀表是簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，大量壓縮零部件，提高智能化和便于操作，發(fā)展在線(xiàn)計(jì)量測(cè)試儀器儀表。
　　利用物理學(xué)的新效應(yīng)和高新技術(shù)及其成績(jī)開(kāi)發(fā)新型計(jì)量測(cè)試儀器儀表和新型高靈敏度、高穩(wěn)定性、強(qiáng)抗打攪能力的新型傳感器技術(shù)。
　　發(fā)展微量機(jī)器人。類(lèi)似的測(cè)量?jī)x器己出現(xiàn)，即Zeiss的Scan Max三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。它是利用了智能機(jī)器人技術(shù)，但要保證測(cè)量量值的計(jì)量正確性是一個(gè)十分復(fù)雜理論和技術(shù)問(wèn)題?，F(xiàn)在已得到了初步解決。
　　(3)分析儀器的發(fā)展趨勢(shì)
　　分析儀器正向智能化方向發(fā)展，發(fā)展趨勢(shì)主要表現(xiàn)是：基于微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)分析儀器的自動(dòng)化，經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)控制器和數(shù)字模型進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、運(yùn)算、統(tǒng)計(jì)、分析、處理，提高分析儀器數(shù)據(jù)處理能力，數(shù)字圖像處理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了分析儀器數(shù)字圖像處理功能的發(fā)展;分析儀器的聯(lián)用技術(shù)向測(cè)試速度超高速化、分析試樣超微量化、分析儀器超小型化的方向發(fā)展。
　　分析技術(shù)和分析儀器的使用范圍廣泛　　
　　可以肯定：在新世紀(jì)到來(lái)后，分析技術(shù)和分析儀器的應(yīng)用由“物”到“人”的拓展趨勢(shì)將更加顯著。我們必須看準(zhǔn)這個(gè)發(fā)展潮流，在分析儀器事業(yè)的發(fā)展思路中擺正位置、選好方向。